力科發布8端口和12端口信號完整性網絡分析儀SPARQ

    力科公司，世界領先的示波器、串行數據測試解決方案以及網絡分析儀供應商，今天正式發布8端口和12端口系列的信號完整性網絡分析儀SPARQ。SPARQ使得S參數測量變得更加快捷且價格只有網絡分析儀（VNA）的幾分之一。使用8端口或者12端口的SPARQ，信號完整性工程師將能夠對多鏈路差分結構的產品的串擾特征進行分析。

    高速多鏈路串行數據信號正得到市場的廣泛應用，這給設計工程師帶來了很多新的挑戰。使用傳統的網絡分析儀來測量8端口或者12端口的S參數會非常昂貴而且耗時間。因此工程師需要更合適且買得起的測試工具。力科新的SPARQ價格只有功能較少的矢量網絡分析儀（VNA）的幾分之一。比如說，12端口SPARQ的價格和4端口的VNA的價格相當。所有的SPARQ使用一套內置的OSLT校準件，這使得使用者能夠快速的校準分析并測量被測件，而不需要使用容易發生錯誤的外部標準校準件。這意味著使用者可以在大約30分鐘內完成所有12端口S參數的測量，而其中還有一大部分是我們不必關注的采集和計算時間。

    多鏈路串行數據系統中的串擾問題需要12端口S參數

    云計算，移動計算，智能手機，以及流式視頻應用正推動市場追求越來越高的網絡帶寬。為了滿足這些需要，今天或者將來的通信標準幾乎都使用了多鏈路差分信號以傳輸日益增加的比特流信息。多鏈路差分信號正變得越來越普及，被廣泛用于諸多的高速標準如PCIe Gen3，串行Rapid IO，InfiniBand，以及40/100 Gbase 以太網。尤其是信號完整性問題會導致通道間的串擾及相互影響，比如碼間干擾會導致閉合的眼圖和更大的抖動。信號完整性工程師也會發現為了避免設計問題及昂貴的重新設計，他們在設計多鏈路差分電路和互連時就必須嘗試預測和理解這些問題。

    當使用4端口網絡分析儀時，信號完整性工程師只能夠測量一對差分鏈路的S參數。然而，這些測量只表征了一部分電路的行為特征，而不能夠表征鏈路之間的串擾。使用力科的SPARQ-3012E，只需點擊一個按鈕，使用者即能夠測量完整的12端口S參數矩陣，包括單端模式以及混合模式。S參數結果描述了多達三對差分鏈路的近端串擾（NEXT）和遠端串擾（FEXT），該S參數矩陣可被用于侵害-受害-侵害模型以預測電路性能以及用于使眼圖張開的發送端和接收端的均衡調整。新的SPARQ的標稱截止頻率為30GHz，且能夠將S參數結果恢復到40GHz，這使得SPARQ廣泛適用于大部分多鏈路的串行數據標準的串擾測量。

    SPARQ：快速測量S參數

    8端口和12端口的SPARQ是力科在2010年9月發布的信號完整性網絡分析儀SPARQ系列的延伸。SPARQ是專門針對信號完整性應用的更專業產品，使用TDR/TDT的原理和技術來測量無源器件的S參數。SPARQ使用者將SPARQ連接到他們的被測DUT和他們的PC，PC用于運行SPARQ應用軟件。設好端口數、測量點數以及截至頻率后，只需點擊“Go”按鈕即開始快速的測量。