安捷倫將在京滬深港四地舉辦芯片測試新技術研討會

　　安捷倫科技(Agilent Technologies)日前宣布，該公司將于9月8日、10日、13日和14日分別在北京、上海、香港和深圳四地舉辦芯片測試新技術研討會(Agilent SOC Test Symposium )。

　　據悉，安捷倫的資深技術工程師屆時將在研討會上就多個主題展開演講，其中在北京、上海和深圳三地的主題包括：《系統級芯片測試的下一領域》、《更高性能，更低成本：混合信號測試的下一領域》、《DOCSIS 2.0和HDTV測試挑戰》、《COT & Test Reduction》、《ACLR測量》、《高速測試的下一領域》等；而香港站的研討會則包含上述部分主題。

　　安捷倫表示，混合信號與高速儼然已成為科技發展市場的主流。在電子消費領域，為實現高質量的音頻、視頻、基帶I/Q ADC和DAC，業界面臨全新的混合信號測試挑戰。市場價格競爭也日益激烈，應此需求，安捷倫AV8集混合信號八大功能于一身的加強版，可大大增強測試靈活性，并協助降低投資。

　　而在高速測試方面，安捷倫繼2003年推出PCI Express測試解決方案——NP2500，協助客戶開發及驗證程序，更上一層樓推出了降低測試成本兼錯誤涵蓋率(Fault Coverage)的BIST Assist 6.4。