針對LED進行壽命測試,設備硬件依據LM-80標準測試方法開發設計,完全符合LM-80測試要求。該系統可精確設定高低溫環境,使LED暴露在高溫環境下,同時又精確控制LED結溫,使LED在高溫條件下老化,加速其光度衰減。并可根據不同時間節點的測試數據,推算出LED的壽命。系統設計極為人性化,LED老化設備方便與積分球系統對接測量,有效的提高測量效率。
特點
❉ 環境溫度 能夠有效控制LED的老化環境溫度,即周圍空氣溫度
❉ 濕度控制 對于老化溫度箱內的濕度進行自動控制,并滿足LM-80要求
❉ 殼溫控制 能夠控制每一組LED的殼溫
❉ 溫度測試 在廠家指定TS點的情況下,能夠對每一顆LED的殼溫進行測試
❉ 電流控制 每一顆LED由獨立電流源供電,可單獨控制輸出電流
❉ 時間采集 精確采集每一組LED被點亮的老化時間
❉ 故障管理 自動扣除失效LED的老化時間
❉ 關閉周期 開關型LED,自動扣除關閉半周的時間
❉ 測試速度 能夠在120秒內測量一組20顆LED
❉ 光度測試 5/10/20顆LED一組,每顆LED可順序切換,單獨測試光度值
❉ 色度測試 5/10/20顆LED一組,每顆LED可順序切換,單獨測試色度值
❉ 系統標準 標準燈可追溯到NIST
❉ 條碼掃描 可根據要求拓展條形碼掃描功能,自動讀取產品編號
❉ 控制備份 有自主備份計算機,既可實現數據備份,也可實現控制備份
❉ 測試參數 包括光度參數、色度參數、溫度參數、濕度參數、時間參數、電學參數
❉ 系統分離 整個系統分為老化、測量、分析輸出三部分
❉ 壽命估算 提供參考壽命估算模型,也可以定制分析方法
❉ 測試報告 自動輸出測試報告,并根據分析方法,得出壽命推算值
案例
❉ 東莞質檢
❉ 常州質檢