可控硅測試儀系統概述
YB6200測試系統（以下簡稱系統）是本公司推出的一款先進的大功率半導體分立器件和半導體模塊測試系統。
本系統適合各大研究院所做元器件檢驗，元件進廠檢測篩選以及在線開發器件做生產測試。系統可擴展性強，通過選件可以提高電壓、電流的測試能力和增加測試品種范圍。自動快速測試可以滿足用戶大生產需要，故障率低也保證了用戶的生產效率。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試參數即可完成填表編程，操作人員不需具備專業計算機編程語言知識，使用簡捷方便。
系統采用帶有開爾文感應結構的測試插座，自動補償由于系統內部及測試電纜長度引起的任何壓降，保證各種情況下測試結果的準確可靠。
系統面板的顯示裝置能夠及時顯示系統的各種工作狀態和測試結果。前面板的小鍵盤方便了系統操作。通過小鍵盤，系統可以脫開主控計算機獨立完成多種測試。
系統提供與機械手、探針臺、電腦的連接接口，可以支持各種不同輔助設備的相互連接使用。

 
1.2 YB6200測試范圍
YB6200系統是專為測試半導體分立器件而研發設計。它具有十分豐富的編程軟件和強大的測試能力，能夠真實準確測試以下類型的半導體器件以及相關器件組成的組合器件、器件陣列：
1) 二極管DIODE
2) 晶體管 TRANSISTOR（NPN型/PNP型）
3) 穩壓（齊納）二極管 ZENER
4) 結型場效應管 J-FET （N-溝/P-溝，耗盡型/增強型）
5) MOS場效應管 POWER MOSFET（N-溝/P-溝）
6) 三端穩壓器 REGULATOR（正電壓/負電壓，固定/可變）
7) 光電耦合器 OPTO-COUPLER（NPN型/PNP型）
8) 可控硅整流器（普通晶閘管） SCR
9) 雙向可控硅 （雙向晶閘管） TRIAC
10) 絕緣柵雙極大功率晶體管 IGBT（NPN型/PNP型）
11) 光電邏輯器件 OPTO-LOGIC
12) 雙向觸發二極管 DIAC

1.3 YB6200測試儀指標
主極參數
1、主極電壓： 2000V
2、電壓分辨率：5mV
3、主極電流： 50A
加選件YB550向下可擴展到10pA，
加選件YB580向上可擴展到：100A,200A ，400A,500A。
4、電流分辨率1nA 加選件YB550分辨率為10pA
控制極參數
1、控制極電壓：100mV---20V 加選件可擴展到80V
2、電壓分辨率：1mV
3、控制極電流：100nA---10A 加選件可擴展到40A
4、電流分辨率：1nA 加選件YB550分辨率為10pA
5、測試速度：5MS/參數

1.4 YB系統參數配置
系統正常配置能提供的高陽極電壓2000V，陽極電流為50A；
擴展電壓和電流范圍，可提供的選件有2000V陽極高壓選件，250A/500A/750A /1000A/1250A陽極大電流選件。
電壓分辨率：1mV；
電流分辨率：1nA
此外還可提供的小電流測試臺選件，能夠將漏電流測量分辨率從1nA擴展到10pA。
測試速度：1mS/參數(本系統采用填入式編程方法，專為國內用戶開發)
測試參數：
漏電參數： IR、 ICBO、 LCEO/S/X、IDSS/X、 IDOFF、 IDRM、 IRRM、ICOFF、IDGO、ICES、
IGESF、IGESR、IEBO、 IGSSF、 LGSSR、IGSS、IGKO、 IR(OPTO)
擊穿參數： BVCEO BVCES(300μS Pulse above 10mA)
BVDSS、 VD、 BVCBO、、 VDRM、 VRRM、 VBB
BVR 、 VD+、VD-、BVDGO、BVZ
BVEBO、 BVGSS、 BVGKO
增益參數： hFE、CTR、gFS、VGSTH、VGETH
導通參數: VCESAT、VBESAT、VBEON、 VF、VT、VT+、VT-、 VON、VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)
VGSTH、VGETH、VTM、VSD、IDON、VSAT、IDSS、IDON、 Notch = IGT1，IGT4、ICON、VGEON、
VO(Regulator)、IIN(Regulator)
關斷參數: VGSOFF
觸發參數: IGT、VGT
保持參數: IH、IH+、IH-
鎖定參數： IL、IL+、IL-
混合參數: rDSON、gFS、Input Regulation、Output Regulation
間接參數: IL