基于0.5μm BCD工藝的欠壓鎖存電路設計
上傳時間:2009/11/27 14:09:26
摘要: 隨著集成電路技術的發展,對電源管理芯片的開關頻率、傳輸延遲、穩定性、功耗等各種要求越來越高,以保證電源電壓在波動的情況下能夠可靠的工作。
一般的電源芯片上電啟動時,電源會通過輸入端的等效電阻和電容對其充電,使得電源芯片的電壓逐步上升,直到電壓上升到芯片的開啟電壓時電路正常工作。然而若系統的負載電流較大,有可能把電路的電壓拉低到開啟電壓以下,出現一開啟就關斷的情況。為了保證電路正常進入啟動狀態并且穩定工作,同時也為了電路工作時電源電壓的波動不會對整個電路和系統造成損害,一般使用所謂的欠壓鎖存(Under Voltage LockOut,UVLO)電路對電源電壓實時監控和鎖存。
一般的電源芯片上電啟動時,電源會通過輸入端的等效電阻和電容對其充電,使得電源芯片的電壓逐步上升,直到電壓上升到芯片的開啟電壓時電路正常工作。然而若系統的負載電流較大,有可能把電路的電壓拉低到開啟電壓以下,出現一開啟就關斷的情況。為了保證電路正常進入啟動狀態并且穩定工作,同時也為了電路工作時電源電壓的波動不會對整個電路和系統造成損害,一般使用所謂的欠壓鎖存(Under Voltage LockOut,UVLO)電路對電源電壓實時監控和鎖存。
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--本文摘自EDN電子設計技術,已被閱讀2352次
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