YB-6910 IPM 測試系統簡介

一、系統概述

YB6910IPM 測試系統（以下簡稱系統）是本公司最新推出的一款先進的型新大功率器件和半導體模 塊測試系統。

本系統適合各大研究院所做 IPM 檢驗，器件模塊前端，后端檢測篩選以及在線開發器件做生產測試。系統可擴展性強，通過選件可以提高電壓、電流的測試能力和增加測試品種范圍。自動快速測試可以滿 足用戶大生產需要，故障率低也保證了用戶的生產效率。在 PC 窗口提示下輸入被測器件的測試參數即可 完成填表編程，操作人員不需具備專業計算機編程語言知識，使用簡捷方便。系統采用帶有開爾文感應結構的測試插座，自動補償由于系統內部及測試電纜長度引起的任何壓降，保證各種情況下測試結果的準確可靠。系統面板的顯示裝置能夠及時顯示系統的各種工作狀態和測試結果。系統提供與機械手、探針臺、電腦的連接接口，可以支持各種不同輔助設備的相互連接使用。

二、系統參數配置

系統正常配置能提供 高陽極電壓 2000V，陽極電流為 400A；

擴展電壓和電流范圍，

高 壓 選件——1000V/2200V/3300V/4500V/6000V ，

大電流選件——100A/200A/400A /600A/1000A/2000A

測試項目：IPM IGBT DIODE

測試速度：1mS/參數(本系統采用填入式編程方法，專為國內用戶開發)

主機尺寸(mm): 630（W）* 2500（D）* 1920（H）

重     量(kg): 330

電     源: 240VAC（-15%） 50/60HZ Fused 2A/1A

三、測試范圍

【 靜態參數指標 】

1、 下橋 IGBT/FRD 漏電流測試(Ices-L)

2、 上橋 IGBT/FRD 漏電流測試(Ices-H)

3、 上橋 IGBT/FRD 耐壓測試(Bvce-H)

4、 下橋驅動 IC 靜態工作電流測試（IDL）

5、 上橋驅動 IC 低端靜態電流測試

6、 上橋驅動 IC 高端靜態工作電流測試

7、 故障輸出電壓測試（Vfoh Vfol）

8、 過流保護閾值電壓測試（Vcin（ref））

9、 下橋欠壓保護監測電平（UVdd）

10、 下橋欠壓保護復位電平（UVdr）

11、 上橋欠壓保護監測電平 （UVbsd-U V W）

12、 上橋欠壓保護復位電平（UVbsr-U V W）

13、 下橋驅動 IC 導通閾值電壓（Vth（on）-UL VL WL）

14、 下橋驅動 IC 關斷閾值電壓（Vth（off）-UL VL WL）

15、 上橋驅動 IC 導通閾值電壓測試（Vth（on）-UH VH WH）

16、 上橋驅動 IC 關斷閾值電壓測試（Vth（off）-UH VH WH）

17、 下橋 IGBT 飽和電壓測試（Vce(sat)-UL VL WL）

18、 上橋 IGBT 飽和電壓測試（Vce(sat)-UH VH WH）

19、 下橋 FRD 正向壓降測試（VF-(UL VL WL)

20、 上橋 FRD 正向壓降測試（VF-(UH VH WH)

【 動態參數指標】

  1、下橋開關參數

集電極電壓 Vce：100～1200V，誤差±3%，分辨 10V

集電極電流 Ice:10～75A，誤差±3%，分辨 1A VD=VBS=15V, 誤差±3%,分辨率 0.1V VIN=0～5V 誤差±3%,分辨率 0.1Vton-L : 10～500nS, 誤差±3%,分辨率 1nS tc（on）-L :5～200ｎS, 誤差±3%,分辨率 1nS toff-L: 50～500ｎS, 誤差±3%,分辨率 1nS tc(off)-L: 5～200ｎS, 誤差±3%,分辨率 1nS Trr-L :10～500ｎS, 誤差±3%,分辨率 1nS Eon-L :0.1～10ｍＪ,誤差±3%,分辨率 0.1mJ

Eoff-L： 0.1～10ｍＪ誤差±3%,分辨率 0.1mJ

2、上橋開關參數

集電極電壓 Vce：100～1200V，誤差±3%，分辨 10V

集電極電流 Ice:10～75A，誤差±3%，分辨 1A VD=VBS=15V, 誤差±3%,分辨率 0.1V VIN=0～5V 誤差±3%,分辨率 0.1Vton-H : 10～500nS, 誤差±3%,分辨率 1nS tc（on）-H :5～200ｎS, 誤差±3%,分辨率 1nS toff-H: 50～500ｎS, 誤差±3%,分辨率 1nS tc(off)-H: 5～200ｎS, 誤差±3%,分辨率 1nS Trr-H :10～500ｎS, 誤差±3%,分辨率 1nS Eon-H :0.1～10ｍＪ,誤差±3%,分辨率 0.1mJ Eoff-H： 0.1～10ｍＪ誤差±3%,分辨率 0.1mJ

測試條件：VPN=600V, VD=VBS=15V IC=50A, VIN=0↔5V，

開關損耗定義：

Eon：tc(on)時間段內 Vce*Ic 的積分，

Eoff：tc(off)時間段內 Vce*Ic 的積分。

3、短路測試

四、系統軟件支持

器件測試程序的生成是通過在一臺運行系統為 Windows 或 WindowsNT 的 PC 機上 YB6910 接口程序實 現的。該程序提供快速的器件測試程序生成，具有全屏顯示和增強型編輯幫助。

一種填空式編程方法向用戶提供簡明、直觀的使用環境。操作人員只需在提示下，輸入所選器件系列名稱和測試類型，并選擇所需測試的參數，而不必具有專業計算機編程語言知識。完成一個器件的測 試程序編制只需幾分鐘的時間，非常快捷方便。